仪器特点： MC-2000(A、C、D)型涂（镀）层测厚仪是高新技术的结晶,它采用单片机技术，精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、无校正旋钮、单探头全

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DMS 2 型超声波测厚仪是种创新的A-扫描数字测厚仪/数据记录器。它基于Krautkramer的TopCOAT专利技术，采用自动速率模式(Auto-V)，集众多特性于身，使用简便。

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消声室/无响室/静音室/隔声室/吸声室/混响室  （或伴消声室）是声学实验和噪声测试中极其重要的实验场所。其作用是提供一个自由场或半自由场空间的低噪声测试环

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纳米粒度测量——新动态光背散射技术随着颗粒粒径的减小，例如分子级别的大小，颗粒对光的散射效率急剧降低，使得经典动态光散射技术的自相关检测（PCS）变得更加不确定。40多年来，Microtrac公司一直致力于激光散射技术在颗粒粒度测量中的应用。

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主要用途：•气缸、套管及连杆内部的3D表面轮廓•工作表面的质量控制•发动机相同区域试运转前后的测量

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SN型氙灯试验箱采用能摸拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波,可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速试验。  SN型氙灯试验

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日本KETT膜厚仪LZ-990型是一款小巧、精度高、功能全面的便携式两用涂镀层膜厚仪，适用于：网版油墨印刷层、硅胶油墨涂层、金属热镀锌层，金属电泳层等膜厚测试。本司还具备维修、校正、销售服务。

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KSV NIMA为瑞典百欧林科技有限公司旗下的子品牌之一，主要经营方向为单分子层薄膜的构建与表征工具。Langmuir膜分析仪(配置显微镜窗口)为KSV NIMA自主研发的一款单分子层膜的制备和表征设备，适用于制备、改性和研究Langmuir膜。

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技术指标： WG2003 WG2003C WG2003S WG2003SBC  产品配置 普通型 带观察窗 数字显示 带数字显示，观察窗，不锈钢内胆  工作室容积（l ） 30  工作室尺寸（cm）

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UFV 型食品包装未填充体积检测系统-VELP公司产的UFV型食品包装未填充体积检测系统是一个创新的设计，可以简单快速的检测食品包装的未填充体积或者顶空体积，并对包装食品的货架期作基本分析，评估和预见食品卫生营养的质量和食品的保存周期，同时有助于对食品包装的设计，如选择包装的尺寸、形状和材质等。

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